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首頁(yè)>>大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)系列

  • 碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

    碳化硅襯底檢測(cè),碳化硅成像檢測(cè),碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)：最高檢測(cè)速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識(shí)別。
    型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市 對(duì)比
    SiC襯底位錯(cuò)缺陷無(wú)損檢測(cè)無(wú)損檢測(cè)儀
    2024/12/4 11:14:451611

  • SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

    碳化硅成像檢測(cè),SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng)：晶圓襯底質(zhì)量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
    型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市 對(duì)比
    SiC晶圓少子壽命質(zhì)量成像SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng)碳化硅成像檢測(cè)
    2024/12/4 11:13:581099

  • 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池綜合性檢測(cè)分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

    鈣鈦礦太陽(yáng)能電池綜合性檢測(cè)分析系統(tǒng)檢測(cè)時(shí)間＜10 min（10cm*10cm） 空間分辨率20 μm/100μm。
    型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市 對(duì)比
    分析儀器半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)
    2024/12/4 11:10:25755

  • MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

    MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)明場(chǎng)/PL檢測(cè)類型：明場(chǎng)缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
    型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市 對(duì)比
    半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)
    2024/12/4 11:08:391151
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